Wafer Sort Probe Card

Exponat: Advanced Mask Technology Center GmbH & Co.KG Dresden / GLOBALFOUDNRIES Dresden (Cool Silicon Partner)

Exponat: Advanced Mask Technology Center GmbH & Co.KG Dresden / GLOBALFOUDNRIES Dresden (Cool Silicon Partner)

Auch wenn nach dem Parametertest die einzelnen Transistoren des Chips funktionieren, können bei deren Zusammenschaltung Fehler aufgetreten sein. Deshalb folgt nach dem Ende des Produktionsprozesses ein Funktionstest. Die Prüfspitzenplatine setzt dazu auf die Kontakthügel des Chips auf. Ein defekter Chip wird als Ausschuss gekennzeichnet und später nicht in ein Gehäuse verpackt.


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